株式会社コンテックは、PCI Express対応Cメータボードに校正証明書付きモデルを追加、「ZM-C2H-PE-CC」(以下、新製品)として2026年4月8日より受注を開始します。

新製品は、積層セラミックコンデンサの静電容量と損失係数を高速・高精度に測定できるPCI Express対応のCメータボードの校正証明書付きモデルです。新製品では、出荷前に校正を実施、校正証明書/試験成績書/トレーサビリティ体系図の書類一式を発行、添付して出荷します。
また、併せて当社Webサイトよりお申し込みいただける校正サービスを用意します。校正証明書付きモデルの定期校正に加え、これまで校正証明書を添付していなかった当社Cメータボードにつきましても、新規校正に対応します^※

• ※
  校正サービスは基準に対しての正しさを確認し、その信頼性を証明するサービスで、修理及び精度調整は実施しません。修理及び出荷時同等の精度調整をご希望の場合には、別途修理サービスをご利用ください。

主な特長

• 大容量のセラミックコンデンサ測定

  400pF～1.4mFのセラミックコンデンサの静電容量Cと損失係数Dの測定が可能です。
  測定周波数は、1kHzと120Hz、測定電圧は1.0Vrmsと0.5Vrmsです。

• 高速な測定が可能

  静電容量Cと損失係数Dを、1kHzでは2msec、120Hzでは10msecで測定可能です。

• メーカ校正証明書/検査成績書/トレーサビリティ体系図を添付

  校正証明書^※に合わせて、校正実施時の試験成績書、校正結果が標準器まで紐づいていることを示すトレーサビリティ体系図を添付します。

  • ※
    証明書は、いわゆるメーカ校正証明書となり、JCSS校正証明書ではありません。

製品情報ページ

• PCI Express対応2ch Cメータボード「ZM-C2H-PE / ZM-C2H-PE-CC」

関連リンク

• カスタムコンピュータ Solution-ePC® シリーズ
• ソリューション(半導体産業)
• 計測制御デバイス 校正サービス

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